La diffractométrie de rayons X (DRX ou XRD pour X-ray diffraction) est une technique d'analyse non destructive conduisant à l’arrangement périodique tridimensionnel des atomes dans la matière cristallisée. Le diffraction d’une structure périodique (réseau + motif) induit une dispersion des radiations X générant des interférences constructives à des angles spécifiques.

Sur un cliché de diffraction, l’espacement entre les tâches nous donne des informations sur la symétrie et l’intensité des tâches sur la structure, la nature chimique et la position des atomes.